微模式申請(qǐng)基于輪廓結(jié)構(gòu)分析的印刷文字缺陷檢測(cè)方法及裝置專利解決現(xiàn)有技術(shù)在印刷文字細(xì)小區(qū)域缺失的漏檢問(wèn)題
kaiyun中國(guó)網(wǎng)站金融界2024年11月4日消息,國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局信息顯示,湖北微模式科技發(fā)展有限公司申請(qǐng)一項(xiàng)名為“一種基于輪廓結(jié)構(gòu)分析的印刷文字缺陷檢測(cè)方法及裝置”的專利,公開(kāi)號(hào)CN 117679 A,申請(qǐng)日期為2024年9月。
專利摘要顯示,本發(fā)明公開(kāi)一種基于輪廓結(jié)構(gòu)分析的印刷文字缺陷檢測(cè)方法及裝置,涉及圖像質(zhì)檢技術(shù)領(lǐng)域,首先得到待檢測(cè)印刷圖像;然后對(duì)待檢測(cè)印刷圖像進(jìn)行預(yù)處理并對(duì)齊到電子打印原圖;對(duì)電子打印原圖,切割出每一個(gè)字符得到字符圖像塊,找到該字符的候選區(qū)域得到候選圖像塊。分別對(duì)字符圖像塊和候選圖像塊進(jìn)行二值分割。以模板匹配方法,將二值字符模板圖像為模板在二值候選圖像中搜索得到該字符的最佳匹配位置。在二值候選圖像中最佳匹配位置處裁剪出與二值字符圖像同樣大小的圖,稱匹配圖像。對(duì)匹配圖像,二值字符圖像和same圖像分別進(jìn)行輪廓分析,得到各自的輪廓樹(shù),最后通過(guò)輪廓樹(shù)匹配實(shí)現(xiàn)缺陷檢測(cè),解決現(xiàn)有技術(shù)在印刷文字細(xì)小區(qū)域缺失的漏檢問(wèn)題。